熒光光譜測試儀又稱(chēng)分光儀,廣泛為認知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線(xiàn)不同波長(cháng)位置強度的裝置。它由一個(gè)入射狹縫,一個(gè)色散系統,一個(gè)成像系統和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長(cháng)或波長(cháng)區域,并在選定的波長(cháng)上(或掃描某一波段)進(jìn)行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。
標準配置:
1. 原裝電致冷Si-PINtanceqi
2. X射線(xiàn)光管模塊
3. 高低壓電源模塊
4. 多道分析模塊
5. 信噪比增強模塊
6. 集成IPAD觸摸屏
7. RoHS鹵素軟件系統
一臺典型的光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺和一個(gè)檢測系統組成。包括以下幾個(gè)主要部分:
1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點(diǎn)。
2. 準直元件: 使狹縫發(fā)出的光線(xiàn)變?yōu)槠叫泄?。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上,如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
3. 色散元件: 通常采用光柵,使光信號在空間上按波長(cháng)分散成為多條光束。
4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像,其中每一像點(diǎn)對應于一特定波長(cháng)。
5. 探測器陣列:放置于焦平面,用于測量各波長(cháng)像點(diǎn)的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類(lèi)的光探測器陣列。
熒光光譜測試儀技術(shù)參數:
測試范圍 | RoHS, 鹵素(硫S-鈾U之間的元素) |
可測試樣品的種類(lèi) | 固體,液體,粉末 |
檢出限 | ≤2ppm;精度:±0.05% |
測試時(shí)間 | 30-300s(可以任意調節) |
攝像定位系統 | 800萬(wàn)真像素高清定位系統 |
X射線(xiàn)光管使用壽命 | >20000小時(shí) |
探測器 | Amptek公司原裝電致冷Si-PIN探測器; 分辨率 145ev±5ev |
高壓電源 | 0-50kev,0-2mA 50w |
準直濾光系統 | X射線(xiàn)光斑大小直徑:φ1mm,φ3mm,φ5mm; 9種復合濾光系統 |
工作環(huán)境溫/濕度 | 溫度15-30℃ 濕度 ≤75%(不結露) |
輸入電源 | AC220V±15% 50Hz |
額定功率 | 150W 重量 33kg |
儀器尺寸 | 670*400*330mm |
測試樣品腔尺寸 | 200*260*80mm |
專(zhuān)業(yè)RoHS指令有害元素和鹵素快速,無(wú)損檢測;一體機設計,內置工業(yè)計算機和IPAD觸摸屏,無(wú)需另配電腦和顯示器。
產(chǎn)品圖片