長(cháng)沙武漢高低溫低氣壓試驗箱海拔真空測試箱，在高低溫低氣壓?jiǎn)雾椈蛲瑫r(shí)作用下，進(jìn)行貯存運輸可靠性試驗，并可同時(shí)對試件通電進(jìn)行電氣性能參數的測試。

適用范圍：航空、航天、電子、、科研和其它工業(yè)部門(mén)確定電工的電子科技產(chǎn)品（包括元器件、材料和儀器儀表）。

產(chǎn)品名稱(chēng)：高低溫低氣壓試驗箱

產(chǎn)品型號：GT-DQY-1000Z

技術(shù)參數：

1.工作室尺寸：GT-DQY-1000Z(1000×1000×1000)

2.溫度范圍：-40～150℃

3.溫度偏差：±2℃

4.溫度波動(dòng)度：±0.5℃

5.溫度均勻度：≤2℃

6.氣壓等級:4～84kpa

7.升溫速率 3.0℃/min

8.降溫速率 1.0℃/min

操作步驟：

1. 將試驗樣品連接好導線(xiàn)后放入箱內。

2. 連接好抽氣管道。

3. 關(guān)好箱門(mén)，并打開(kāi)真空泵，開(kāi)始抽氣。

4. 當氣壓達到試驗大氣壓時(shí)，關(guān)上抽氣閥。

5. 讓氣壓保持試驗規定時(shí)間。

6. 打開(kāi)進(jìn)氣閥門(mén)，讓箱內氣壓回到正常值。

7. 打開(kāi)箱門(mén)，取出試驗樣品。產(chǎn)品原理及作用

標準依據：

GB/T2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）

GB/T2423.22-2002  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)節試驗規程，試驗N：溫度變化試驗方法

GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法總則

GJB150.3A-2009 裝備試驗室環(huán)境試驗方法（高溫試驗）

GJB150.4A-2009裝備試驗室環(huán)境試驗方法 （低溫試驗）

GJB150.9A-2009裝備試驗室環(huán)境試驗方法 （濕熱試驗）

GB/T2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

GB/T2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫

GB/T2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗

GB2423.1-89  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗A：低溫試驗方法

GB2423.2-89  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗B：高溫試驗方法

GB10592-89   高低溫箱技術(shù)條件

GB11158      高溫試驗箱技術(shù)條件；

GB10589      低溫試驗箱技術(shù)條件；

GB10592      高低溫試驗箱技術(shù)條件

長(cháng)沙武漢高低溫低氣壓試驗箱海拔真空測試箱，可根據客戶(hù)的要求設計客戶(hù)滿(mǎn)意的高低溫低氣壓試驗箱。